SÍNTESE E CARACTERIZAÇÃO DA ESTRUTURA CRISTALOGRÁFICA E ELETRÔNICA DE FILMES FINOS DE BA 1-X SR X TIO 3 PREPARADOS POR SOL-GEL

Matheus Henrique da Silva Barbosa; Alexandre Pancotti

Título do Trabalho

Autores

Matheus Henrique da Silva Barbosa
Alexandre Pancotti

Modalidade

Resumo Simples

Área temática

Ciências Exatas

Data de Publicação

21/12/2023

País da Publicação

Brasil

Idioma da Publicação

Português

Página do Trabalho

https://www.even3.com.br/anais/conepeufj/716323-sintese-e-caracterizacao-da-estrutura-cristalografica-e-eletronica-de-filmes-finos-de-ba-1-x-sr-x-tio-3-preparado

ISBN

978-65-272-0124-3

Palavras-Chave

Filmes Finos, Titanato de Bário, BTO, Titanato de Estrõncio, BST, DRX, FXR, FTIR, Spin-Couter, Ba 1-x Sr x TiO3

Resumo

Filmes finos de titanato de bário BaTiO 3 (BTO). A superfície é a primeira interface essencial em vários processos físico-químicos importantes, do ponto de vista científico e tecnológico de diferentes setores. Por exemplo, muitos fenômenos relativos ao transporte de cargas acontecem nas interfaces que em algum momento do processo de produção definiram superfícies com característica muito particulares (mais ou menos ativa, com um maior ou menor número de defeitos, reconstruções, etc). Do ponto de vista de ferroeletricidade, filmes finos de perovskita, por exemplo, titanato de bário, Ba 1-x Sr x TiO 3 (S-BTO), com diferentes heteroestruturas, ex. BaTiO 3/SrTiO 3 tem atraído muita a atenção em pesquisa básica e aplicação tecnológica devido às suas propriedades ferroelétricas, dielétricas e ópticas, as quais atualmente são muito utilizadas na indústria eletrônica. O objetivo deste projeto consiste em determinar experimentalmente o deslocamento e distorções nas primeiras camadas atômicas de filmes finos ferroelétricos e correlacioná-las com a estrutura eletrônica na superfície. Cristais ordenados de alta qualidade provêm uma referência para a superfície de estruturas de volume completamente relaxadas. Segundo, a superfície de filmes finos de S-BTO sobre cristais dopados de SrTiO 3 (100) serão investigadas e os parâmetros de contração e relaxação na superfície quantificadas. A estrutura eletrônica e cristalográfica da superfície (100) da fase tetragonal de BTO serão estudadas utilizando espectroscopia de infravermelho, difração de raios X (XRD) e XPS. Esses resultados serão comparados com outros resultados na literatura e servirão como base para traçarmos um diagrama de fase desses materiais e servirá como referência para a deposição de filmes finos. A segunda parte desse trabalho será aplicar o conhecimento obtido na metodologia de XRD para a investigação de distorções atômicas locais em filmes finos de S-BTO crescidos sobre substratos com diferentes ou não parâmetros de rede preparados na UFJ, correlacionando com os resultados obtidos para monocristais. As coletas de padrões de XRD serão feitas no filme logo após o crescimento, sem tratamento, para determinar precisamente os deslocamentos anti-ferrodistorsivos do oxigênio no octahedro. Os potenciais químicos desses mesmos filmes serão estudados como função da pressão parcial de oxigênio p(O2).

Título do Evento: VIII Conepe - Ciências Básicas para o Desenvolvimento Sustentável
Cidade do Evento: Jataí
Título dos Anais do Evento: Anais do Congresso de Ensino, Pesquisa e Extensão
Nome da Editora: Even3
Meio de Divulgação: Meio Digital

Como citar

BARBOSA, Matheus Henrique da Silva; PANCOTTI, Alexandre. SÍNTESE E CARACTERIZAÇÃO DA ESTRUTURA CRISTALOGRÁFICA E ELETRÔNICA DE FILMES FINOS DE BA 1-X SR X TIO 3 PREPARADOS POR SOL-GEL.. In: Anais do Congresso de Ensino, Pesquisa e Extensão. Anais...Jataí(GO) Universidade Federal de Jataí, 2023. Disponível em: https//www.even3.com.br/anais/conepeufj/716323-SINTESE-E-CARACTERIZACAO-DA-ESTRUTURA-CRISTALOGRAFICA-E-ELETRONICA-DE-FILMES-FINOS-DE-BA-1-X-SR-X-TIO-3-PREPARADO. Acesso em: 29/01/2025